スキャンデータまたはリバースエンジニアリングされた設計から、高品質のCADモデルが作成されます。これらのパラメトリックモデルは編集可能で、設計の最適化、シミュレーション、そしてさらなる製品開発に活用できます。.

DEP 機能:

• スキャンデータから高品質のパラメトリック 3D CAD モデルを生成

• リバースエンジニアリングされたCADからの高品質CAEモデル生成

  • 有限要素モデル

  • CFDモデル

  • 1Dシステムモデル

相関CAEモデルは、製品性能のシミュレーションと解析を行うベンチマークプロセス中に開発されます。これらのモデルは、精度を保証するために物理的な検証を受け、設​​計の改良と最適化において高い信頼性を実現します。一方、パラメトリックCAEモデルは、既存モデルへの変更を可能にすることで迅速な設計反復を可能にし、ベンチマークデータに基づく新たな設計の可能性の検討を容易にします。この組み合わせにより開発プロセスが加速され、効率的かつ情報に基づいた設計判断が可能になります。.

DEP 機能:

• 相関CAEモデル

• フローベンチ、粒子画像流速測定法（PIV）、およびダイノラボテストによるモデルの相関関係の検証

• 競合他社の部品のパラメトリックFEおよびCFDモデル。これを使用して新しい設計を迅速に生成できます。

リバースエンジニアリングとは、既存の製品を分析してその設計と機能を理解することです。このプロセスは、分析されたデータに基づいて、製品の再作成、改良、または新製品の開発に使用されます。.

DEP 機能:

• 部品スキャンサービス

• コンピュータ支援検証（CAV）

• ベンチマークサービス

• 詳細な部品仕様サービス

• その他の分析サポート – 製造可能性、製造および組み立ての設計、材料分析など。.

• モデリングサポート

• オブジェクトの元の設計意図を指定する CAD データを提供します。.

• 詳細な幾何学的/次元的分析。.

• 製造上の欠陥のない部品の再設計。.

ここでは、物理モデルのジオメトリのキャプチャから、分析とさらなる開発に適したデジタル モデルの完成まで、リバース エンジニアリングのプロセスを段階的に概説します。.

DEP 機能:

• レーザースキャン/ハードプローブ物理モデル

• 点群データ

• ポリゴンメッシュ

• CADモデル

• CAEモデル

• CAD/FEモーフィング

• FEA研究

• 最終モデル

このプロセスでは、様々なスキャン手法を組み合わせることで、製品の内部と外部の特徴の両方を含む包括的なデジタルモデルを作成します。その結果、詳細な分析や設計作業に使用できる非常に正確な表現が得られます。.

DEP 機能:

• CTスキャン＆レーザースキャン（外装）

• ポイントクラウドの作成

• ノイズ低減/ポイントクラウドローカルクリーンアップ

• 点群からのポリゴンメッシュ

• CTスキャンモデルとレーザースキャンモデルをそれぞれの参照フィーチャに位置合わせする

• CTスキャンと外部スキャンのブール交差

• 外部モデルとブールモデルを組み合わせる

• ポリゴンメッシュに戻す

DEPの高度な3Dスキャン技術は、物理的な物体から詳細な形状データを取得し、正確なリバースエンジニアリング、品質検査、設計最適化を可能にします。この技術は、高精度が求められるプロジェクトをサポートし、製品の再設計、品質保証、そして設計最適化のための信頼性の高いデータ提供のための効率的なソリューションを提供します。.

DEP 機能:

• レーザースキャン

• CTスキャン

• 3Dポイントクラウド処理

DEPの価値分析・価値エンジニアリング（VAVE）テクノロジーは、コストを削減しながら価値を最大化することで、製品設計とプロセスを最適化することに重点を置いています。ベンチマーキングとリバースエンジニアリングを応用することで、このテクノロジーはコスト削減の機会を特定し、パフォーマンスを向上させ、イノベーションを促進し、顧客にとっての総合的な価値の向上を実現します。.

DEP 機能:

• CAEとシミュレーション

• デザインの強化

• 材料の最適化

材料試験は、様々な温度と機械的応力下における材料の物理的特性を評価します。この情報は、特に過酷な条件下で、材料が意図された用途において確実に機能することを保証する上で非常に重要です。.

DEP 機能:

• すべてのテストは広範囲の温度（-60～300℃）で実施されます。

• 引張試験

• 圧縮テスト

• 曲げ試験